- Описание
- Документы
Тип оборудования: толщиномер покрытий
Производитель: Helmut Fischer (Хельмут Фишер), Германия
Серия: PHASCOPE
Модель: PMP10 DUPLEX
Описание: прибор для измерения толщины покрытий
Гарантия: 1 год
Описание толщиномера PHASCOPE PMP10 DUPLEX:
Благодаря применению фазочувствительного метода измерения прибор PMP10 DUPLEX также подходит для измерения толщины покрытия, наносимого на шероховатые поверхности, или никелевого покрытия, наносимого на сталь.
Прибор PMP10 DUPLEX является оптимальным решением для автомобильной промышленности, где необходимо проводить измерения толщины покрытий из краски, наносимых на алюминий или оцинкованную сталь. Устройство точно измеряет параметры обоих слоев, выполняя всего одну операцию и обеспечивая тем самым экономию времени и финансовых затрат.
Характеристики прибора:
- Точное измерение толщины покрытий из никеля, цинка или меди, наносимых на сталь, в том числе на шероховатые поверхности, посредством фазочувствительного метода измерения
- Измерение покрытий из краски, наносимой на оцинкованную сталь посредством одной процедуры с помощью прибора версии DUPLEX
- Благодаря программному обеспечению Fischer DataCenter упрощается последующая обработка измеренных значений
- Прочный ручной измерительный прибор для проведения исследований в полевых условиях
Применение:
- Исследование покрытий из никеля, наносимых на сталь, медь, чугун или бронзу
- Исследование цветных металлов, наносимых на непроводящую подложку, например медных покрытий печатных плат
- Двухслойные покрытия, например краска, наносимая на алюминий или оцинкованную сталь (только PMP10 DUPLEX)
- Термическое напыление алюминия (TSA) на сталь
- Данный метод особенно подходит для станций измерения изогнутых форм, выпуклых и вогнутых поверхностей, а также шероховатых поверхностей
- Применение специальных датчиков для исследования соединительных отверстий между слоями в печатных платах
- Анализ покрытий микрометрового диапазона, наносимых на цветные металлы, чугун, сталь
- Исследование многослойных систем, толщина слоев которых находится в микрометровом диапазоне
