630028 г. Новосибирск, ул. Чехова 421, офис 8
Пн - Пт: c 8.00 - 18.00 Сб - Вс: выходной

Анализатор цепей Keysight E5063A-011

Временно отсутствует
Цена по запросу

Производитель: Keysight

Производство: США

Гарантия: 3 года

  • Описание
  • Документы

Анализатор цепей Keysight E5063A-011

 

Анализатор Agilent E5063A представляет собой недорогой анализатор цепей, обеспечивающий оптимальное сочетание характеристик и функциональных возможностей для тестирования простых пассивных компонентов, таких как антенны, кабели, фильтры и печатные платы. Анализаторы E5063A обеспечивают наилучшее соотношение цены и уровня характеристик, которые соответствуют как потребностям тестирования, так и возможностям бюджета. Эти приборы позволяют повысить производительность тестирования и стабильности измерений с помощью ставших отраслевым стандартом анализаторов цепей серии ENA, обеспечивая возможность модернизации при изменении технологий в будущем.

 

Анализатор E5063A может использоваться совместно с коаксиальным однополюсным коммутатором на два направления (SPDT) с шиной USB U1810B. Путем программирования последовательности измерений с помощью коммутатора U1810B и анализатора E5063A можно создать экономичное испытательное решение для тестирования нескольких устройств одновременно, позволяющее измерять КСВН сразу четырех антенн.

 

Анализатор E5063A с опцией 011 представляет собой анализатор характеристик печатных плат, который имеет удобный графический пользовательский интерфейс и позволяет выполнять измерения во временной и частотной области в ходе тестирования печатных плат в процессе производства. Анализатор параметров печатных плат E5063A обеспечивает высокую точность, стабильность и воспроизводимость результатов измерений, поддержку нескольких языков, а также устойчивость к электростатическому разряду, сравнимую с традиционными стробоскопическими осциллографами.

 

Технические характеристики:

 

  • Диапазон частот: от 100 кГц до 4,5 ГГц, 8,5 ГГц или 18 ГГц

  • 2-портовое измерение S-параметров с импедансом 50 Ом

  • Функция моделирования влияния тестовой оснастки

  • Анализ во временной области и приложение для тестирования печатных плат (опция 011)