Измерительная станция для контроля шероховатости и контура поверхности Hommel-Etamic Nanoscan 855

ДВА В ОДНОМ. HOMMEL nanoscan 855 комбинированный прибор для одновременного контроля шероховатости и контура поверхности за один проход.

УЛЬТРА-ТОЧНАЯ ОПТИКО-МЕХАНИЧЕСКАЯ ИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ СИСТЕМА. Для синхронного измерения характеристик шероховатости и контура поверхности на криволинейных и наклонных поверхностях необходима высокоточная измерительная система с широким измерительным диапазоном.  HOMMEL nanoscan 855 это СВЕРХ-точная измерительная система с разрешением 0,6 нанометра на диапазоне 24 мм. Одновременно с высокой точностью хода данный прибор обладает превосходными точностными характеристиками параметров микро-геометрии и контура в широком диапазоне.

АВТОМАТИЗИРОВАННЫЙ ЦИКЛ ИЗМЕРЕНИЯ. Станция для контроля шероховатости nanoscan 855 наряду с высокой точностью обеспечивает высокую скорость измерения полностью в  ЧПУ режиме, что гарантирует высокую производительность в контроле качества.

Функциональные характеристики HOMMEL nanoscan 855:

• Эргономичный дизайн

• Система активного подавления вибрации

• Управление станции с джойстиком

• Измерение шероховатости и контура за один проход

• Нет необходимости в выравнивании поверхности перед измерением, что экономит время

• Возможность измерения шероховатости на сферах

• Сверхнизкие внутренние шумы

• Подходит для измерений поверхностей с высокой чистотой обработки

• Измерение параметров элементов профиля с высокой точностью:

  окружности (радиуса, диаметры, межцентровые расстояния), участки контура (расстояния, углы, шаги, прямолинейность, автовыравнивание) и т.д.