- Описание
Описание
Прибор FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD оснащен кремниевым дрейфовым детектором с большой площадью чувствительной области и хорошим разрешением по энергии. В сочетании с диафрагмами большого размера это позволяет регистрировать очень высокие значения скорости счета, что обуславливает великолепную сходимость результатов измерений и очень низкий порог чувствительности. Модель XDV-SDD особенно хорошо подходит для измерения толщины самых тонких покрытий и определения следовых количеств веществ. За счет повышенной чувствительности детектора к низкоэнергетическому рентгеновскому излучению расширяется в область низких атомных чисел диапазон определяемых прибором элементов, что позволяет, например, надежно измерять содержание фосфора или алюминия в воздухе.
Благодаря измерительной камере большого объема с удобным доступом внутрь этот прибор подходит для измерений на плоских объектах и крупных образцах сложной формы. Чтобы можно было создать идеальные условия возбуждения для каждого измерения, прибор XDV-SDD оснащен сменными диафрагмами и первичными фильтрами. Быстродействующая программируемая XY-платформа позволяет легко выполнять последовательные измерения толщины покрытия и распределения элементов в составе. Дружественный к пользователю интерфейс, широко открывающаяся крышка и органы управления на передней панели облегчают повседневную эксплуатацию прибора.
Видеокамера высокого разрешения с большим коэффициентом увеличения, обеспечивающая визуальный контроль в процессе работы, упрощает точное определение места измерения. Дополнительным подспорьем служит лазерный указатель, помогающий быстрее придать образцу нужное положение. Благодаря своим широким возможностям и универсальной конструкции прибор XDV-SDD идеально подходит для НИОКР, аттестации технологических процессов и лабораторного применения, а надежность и удобство пользования делают его ценным инструментом обеспечения качества и контроля производственных процессов.
Особенности
- измерение и анализ очень тонких покрытий даже при очень сложных композициях или в небольших концентрациях элементов;
- программируемая X/Y-платформа позволяет использовать прибор для автоматизированных измерений в области обеспечения качества и контроля производства.
Дополнительные принадлежности
- WinFTM V.6 SUPER XAN/XDAL/XDVM (603-654).
- ACCESSORIES SOLUTION ANAL. Mo (603-216).
