Описание рентгенофлуоресцентного спектрометра серии XUV: 

Вакуумная измерительная камера приборов серии XUV^® позволяет осуществлять проверку легких материалов из натрия и подобных материалов посредством рентгенофлуоресцентного анализа (RFA). В обычных условиях этот метод использовать невозможно, поскольку воздух помещения может поглощать излучаемую радиацию. По этой причине данный прибор является оптимальным решением для ответственных задач исследования толщины покрытий и анализа материалов.

Характеристики прибора: 

• Благодаря высокой чувствительности, высокой степени повторяемости и универсальности измерительных средств приборы этой серии могут применяться в научно-исследовательской сфере
• Приборы оборудованы вакуумной камерой и высокоэффективным дрейфовым кремниевых детектором для повышения точности измерений, в том числе легких элементов
• Приборы позволяют проводить автоматизированное серийное испытание с применением программируемых осей X, Y и Z
• Благодаря возможности применения разных диафрагм и фильтров, приборы можно адаптировать в зависимости от требований разных материалов и условий измерения

Применение: 

Измерение толщины покрытия

• Исследование легких материалов из натрия и подобных материалов в нанометровом диапазоне
• Исследование алюминиевых и кремниевых слоев

Анализ материалов: 

• Определение подлинности и истории происхождения и владения драгоценных камней
• Общий анализ материалов и экспертиза
• Анализ следов (микропримесей) с высоким разрешением